
半导体
参数相同,为何零件质量发生变化?
- 关联记录
- 材料与刀具记录、加工清洗条件、尺寸外观检验
- 帮助查明的问题
- 沿零件履历排查质量波动和待检查工序
应用领域
从半导体、显示、汽车到电子与国防制造,不同产品和设备都需要数据采集、生产履历关联与 AI 运行基础。Ingkle 技术与产品可应用于主要制造领域,也用于国家研究机构的研究与验证环境。

参数相同,为何零件质量发生变化?

检验发现异常,应先排查哪道工序?

还有哪些零件是在相同条件下制造的?

不良增加时,哪些材料或作业条件发生了变化?

不外传生产记录,也能使用 AI 吗?

如何用真实制造数据验证研究模型?
以下为行业应用课题示例,不代表特定企业或机构的部署实绩。
研究数据与 AI
连接面向不同研究目标的专用设备、仪器与实验记录,安全积累海量原始数据,为对比分析及 AI 研究提供环境。
了解研究与验证应用钢铁金属、化工材料、食品、电池等行业也可评估。关键是需连接的设备数据、待解决的生产与质量问题,以及企业内部的运行条件。
详细说明
材料、工艺和质量标准随产品而异。NAZARE 提供采集、存储、查询和模型运行的共同基础,本体表达现场产品、设备与工序关系。NAVIS 的判断标准和执行范围由现场团队共同确定。行业适用性不代表所有设备均已预集成,也不代表包含所有工艺专用模型。
例如查找相同条件下生产的产品、判断工具检查时机,或在内部运行已有模型。先确定产品、设备、现有记录和评价标准,再连接所需数据。
在内部运行生产数据和模型,并明确权限、审批及记录。经过验证的连接与数据定义可复用于后续产品、设备和产线。对国防制造等高安全要求环境,先核查客户网络及软件准入与运行政策。
共同开始
介绍设备、数据环境和优先课题,我们将共同评估从连接到运营的实施路径。